Das untersuchte Material und eine dünne Rubinplatte werden zwischen Saphirplatten geklemmt. Unter dem Einfluss von elektrischem Strom oder Lasererwärmung auf die untersuchte Platte entsteht während 1–2 ms ein Druck von ~ 100 kbar.
Der Druck wird aus der Verschiebung des Rubin-Lumineszenz-Spitzenwerts gemessen. Ein Impuls bei l = 532 nm wird über einen Lichtleiter an die rubinPlatte aufgebracht und die Saphirplatte.
Das Lumineszenzsignal wird mit dem gleichen Lichtleiter bei l = 700 nm durchgelassen . Die Verschiebung des Lumineszenzpeaks bei diesem Signal von 0,5 nm entspricht einem Druckanstieg um 20 kbar.3.
Als Wegaufnehmer wird hochwertiges Rubin mit einem Chromgehalt von 0,5–0,7% verwendet.
Druckmessumformer auf Rubinbasis werden für hydrostatische Drücke in der Größenordnung von 60 kbar verwendet. Ein solcher Sensor hat die Form einer Scheibe mit einem Durchmesser von 0,6 mm und einer Dicke von 0,1 mm und enthält 4 · 10 14 Spins.
Obwohl es viele Substrate gibt, die als potenzielle Materialien für den Ersatz von Saphirsubstraten angesehen werden, ist es auf dem Markt für Substrate (für GaN-LED-Wachstum) aufgrund seines angemessenen Preises und seiner relativ geringen Fehlanpassung nach wie vor dominierend. Zhongju ist in der Lage, Substrate nach Kundenwunsch zu verarbeiten. Gegenwärtig reichen unsere Saphirsubstratproduktionen von 2 bis 12 Zoll mit hoher Qualität und genauer Ausrichtung.
Tabelle 1 Größe der Substrate
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2 inches Substrates
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4 inches Substrates
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6 inches Substrates
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Diameter (mm)
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50.9±0.1
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100.1±0.1
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150.1±0.1
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Primary Flat Length (mm)
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16±1
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31±1
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47.5±1
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Tabelle 2 Spezifikation der Substrate
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Material
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High purity single crystal sapphire
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Surface Orientation
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C-plane ± 0.1°
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Primary Flat Orientation
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A-plane ± 0.5°
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Broken edge length
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≤3mm
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Crack
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0
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Defect
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No inclusion，twin，or boundary
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Bubble and cloud
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Dense bubbles, clouds, and scattered bubble marked and counted as defects by length
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EPD
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≤1000 pits/cm2
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